• N型導電性SiC基板 複合基板 6インチ Epitaxy MBE CVD LPE
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N型導電性SiC基板 複合基板 6インチ Epitaxy MBE CVD LPE

N型導電性SiC基板 複合基板 6インチ Epitaxy MBE CVD LPE

商品の詳細:

起源の場所: 中国
ブランド名: ZMSH
モデル番号: N型導電性SiC基板

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詳細情報

直径: 150±0.2mm Polytype: 4H
耐性: 0.015-0.025ohm ·cm 層の厚さ: ≥0.4μm
空間: ≤5ea/ウェーバー (2mm>D>0.5mm) 前面 (Si-face) の荒さ: Ra≤0.2nm (5μm*5μm)
エッジチップ,スクラッチ,クラック (視覚検査): ない TTV: ≤3μm
ハイライト:

6インチN型導電性SiC基板

,

MBE N型導電性SiC基板

,

エピタキシ N型導電性SiC基板

製品の説明

N型導電性SiC基板 複合基板 6インチ Epitaxy MBE CVD LPE

 

N型導電性SiC基板抽象

 

このN型導電性SiC基板は,直径150mmで精度±0.2mmで,4Hポリタイプを利用して優れた電気性能を有する.基質は抵抗範囲が0である.015から0.025オム・cm,効率的な伝導性を確保.少なくとも0.4μmの頑丈な転送層厚さを含み,構造的整合性を向上させる.品質管理では,ボリュームを1個あたり ≤ 5 に制限する.これらの特性により,SiC基板は,電力電子機器および半導体装置における高性能アプリケーションに理想的です.信頼性と効率性を確保する.

 

N型導電性SiC基板 複合基板 6インチ Epitaxy MBE CVD LPE 0

 

N型伝導性SiC基板の仕様と図面

 

N-type Conductive SiC Substrate

 

ポイント 仕様 ポイント 仕様
直径 150±0.2mm

前面 (Si-face) の荒さ

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

ポリタイプ

耐性

4H

0.015-0.025ohm ·cm

エッジチップ スクラッチ クラック

(視力検査)

TTV

ない

≤3μm

移転層厚さ ≥0.4μm ワープ ≤35μm

無効

≤5ea/ウェーバー (2mm>D>0.5mm)

厚さ

350±25μm

 

N型導電性SiC基板の特性

 

 

N型導電性シリコンカービッド (SiC) 基板は,独自の特性により,様々な電子および光電子アプリケーションで広く使用されています.N型導電性 SiC基板の主要な特性について:

 

  1. 電気特性:

    • 高電子移動性SiCは高電子移動性があり,効率的な電流流と高速電子装置を可能にします.
    • 固有キャリア濃度が低い:SiCは高温でも内在的キャリア濃度が低く,高温用途に適している.
    • 高断熱電圧:SiCは高電圧装置の製造を可能にするため,分解せずに高電磁場に耐える.
  2. 熱特性:

    • 高熱伝導性SiCは熱伝導性が優れているため,高電力装置から熱を効率的に散布するのに役立ちます.
    • 熱安定性:SiCは高温で安定し,構造的整合性と電子特性を維持する.
  3. メカニカルプロパティ

    • 硬さ:SiCは非常に硬い材料で 耐久性や機械的な耐磨性を備えています
    • 化学的惰性SiCは化学的に惰性であり,ほとんどの酸と塩基に耐性があり,厳しい作業環境では有益です.
  4. ドーピング特性:

    • N型ドーピングN型SiCは,通常窒素でドーピングされ,電荷媒体として余分な電子を導入する.ドーピング濃度は,基板の電気特性を調整するために正確に制御することができる.

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N型導電性SiC基板の写真

 

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Q&A

 

Q: SiC 検知とは?

 

A: その通りSiCエピタキスは,SiC基板に薄い結晶性シリコンカービード (SiC) 層を培養するプロセスである.これは典型的には化学蒸気堆積 (CVD) を使用して行われます.ガス状の前体が高温で分解してSiC層を形成するエピタキシアル層は基板の結晶方向に適合し,望ましい電気特性を達成するために精密にドーピングされ,厚さを制御することができます.このプロセスは,電力電子機器で使用される高性能SiC装置の製造に不可欠です高効率性,熱安定性,信頼性などの利点があります.

 

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